大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于碳粉扫描电镜分析的问题，于是小编就整理了3个相关介绍碳粉扫描电镜分析的解答，让我们一起看看吧。
1、扫描电镜能谱的碳含量可信吗
EDS虽是体含量，但主要是定性测量，定量很麻烦，要标定的，一般人家不给做；XPS一般是表层1~3nm处的含量，但是定量准确，精确度在95%以上。
正常。同一个材料能谱仪分析，碳含量相差有点多，是正常的。碳含量相差有点多的原因有四方面：样品制备不均匀。样品制备过程中会存在不均匀的现象，导致样品中碳含量的分布不均匀，从而造成化验结果的误差。
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
一般用来显示图像信号的波形，可以检测亮度变化。扩展到面扫描，用软件可以拟合成一个3D表面形貌图像，但同样不准确。有的制造商以此来说可以观察3D表面形貌，也是不严谨的。
能谱检出限是0.1%wt，结果中出现小于检出限的结果是不正确的。另外能谱对于原子序数在10以下的测得不是很准，误差都有可能，百分之1以上，原子序数10以上的准确度比较高，可以达到百分之零点几。
2、求问这个扫描电镜图片怎么分析形貌特征(如尺寸、均匀度、有无取向)_百...
图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除、对比度增强、图像锐化等。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子、背散射电子及特征X射线等信号来观察、分析样品表面的形态、特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
分析啥？这是一张背散射的图像，即成分像，看样子像金属或者陶瓷的脆性断裂，有河流花样，比较典型的穿晶断裂。
3、如何利用扫描电镜对粉体材料进行能谱分析?
能谱分析通常是通过能谱仪来实现的。能谱仪是一种用来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常与扫描电子显微镜和透射电子显微镜等设备配合使用。
扫描电镜能谱可以分析5号元素（B）及其以后的所有元素周期表中的元素，如：Na、Mg、S、P、Ca、K、Fe、Cu、Mn和Zn。
水化硫铝酸钙晶体（也称钙矾石）约为7%左右。混凝土中因为有粉煤灰、矿渣粉等胶凝材料，水化产物会有所不同。
成分线分布分析：将谱仪固定在钢铁材料所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置上；使电子束沿着指定的路径作直线轨迹扫描，便可得这一元素沿该直线的浓度分布曲线。
能谱仪（EDS，Energy Dispersive Spectrometer）是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。其原理是：当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。
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